ОСОБЕННОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ МЕТОДОВ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОГО РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ РАДИОАКТИВНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Методы сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа широко используют для послереакторных исследований материалов ядерных реакторов. Представлен вариант адаптации сканирующего электронного микроскопа для размещения и работы в радиационно-защитной камере и описаны методические особенности применения методов сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа для исследования радиоактивных материалов.

Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия; электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ; адаптация; дистанционное обслуживание.

FEATURES OF APPLICATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ELECTRON PROBE X-RAY SPECTRAL MICROANALYSIS TO EXAMINE RADIOACTIVE MATERIALS

© V.V. Yakovlev, S.V. Kuzmin, Ilnur F. Gilmutdinov, O.N. Nikitin (e-mail: bri@niiar.ru)

Scanning electron microscopy and electron-probe X-ray spectral microanalysis are widely used for post-irradiation examinations of nuclear reactors materials. Presented is an option of adapting a scanning electron microscope for placement and operation in a hot cell. Described are the methodological features of the application of scanning electron microscopy and electron probe X-ray spectral microanalysis to examine radioactive materials.

Key words: scanning electron microscopy; electron-probe X-ray spectral microanalysis; adaptation; remote handling.