ПРЕДПРИЯТИЕ ГОСКОРПОРАЦИИ «РОСАТОМ»

Перечень предоставляемых услуг

ЦКП предлагает следующие виды типовых комплексных исследований облученных или предназначенных для облучения в атомных реакторах изделий:

  • комплексные исследования тепловыделяющих сборок (от измерения геометрических размеров и анализа внешнего вида изделий, до исследования распределения различных изотопов и элементов в облучённом ядерном топливе и исследования структуры и механических свойств оболочечных материалов);
  • комплексные исследования образцов конструкционных материалов и поглощающих композиций, предназначенных для работы в поле реакторного облучения, как до, так и после реакторного облучения;

ЦКП предлагает проведение комплексных исследований изделий и материалов, применяемых в промышленности по определению причин разрушения изделий на основе экспериментальных исследований и измерений химического и элементного состава, механических свойств, внешнего вида и др.

В число предоставляемых услуг коллективного пользования входят следующие виды работ:


Исследования:

  • структуры и свойства облученных и необлучённых материалов;
  • структуры облученных и необлучённых материалов методом оптической металлографии;
  • теплофизических, электрических и магнитных свойств облученных и необлучённых материалов;
  • фрактографические исследования изломов облученных и необлучённых образцов;
  • фрактографическое изучение изломов и проведение экспертизных исследований, связанных с диагностикой разрушения материалов по виду излома;
  • электронно-микроскопическое исследование тонкой структуры материалов с полной кристаллогеометрической аттестацией фаз;
  • электрических и магнитных свойств материалов;
  • неразрушающий контроль сплошности материалов и сварных соединений;
  • структуры и физико-механические свойства материалов;
  • определение твердости материалов различными методами (по Виккерсу, Майерсу, Бриннелю, Роквеллу и Польди) на необлученных образцах;
  • определение микротвердости материалов на необлученных и облученных образцах;

Испытания:

  • на длительную прочность и ползучесть образцов необлучённых материалов;
  • на растяжение и сжатие облученных и необлучённых образцов при нормальных и повышенных температурах в воздушной среде;
  • на растяжение и сжатие необлучённых образцов при нормальных и повышенных температурах в вакууме;
  • на статическое разрушение образцов и конструктивных элементов;
  • на стойкость против межкристаллитной коррозии;
  • на усталостную трещиностойкость облученных и необлучённых образцов;
  • по определению сопротивления коррозионному растрескиванию материалов;
  • по определению температуры хрупко-вязкого перехода, доли волокнистой составляющей в изломах;
  • по определению характеристик трещиностойкости при статическом нагружении;
  • стандартные испытания на ударный изгиб в интервале температур от −150° до 650°С для определения КСV на облученных и необлученных образцах типа Шарпи и миниобразцах;
  • испытания на малоцикловую усталость в воздушной среде облученных и необлученных образцов при комнатной и повышенных температурах;
  • испытания на ползучесть при усталости в воздушной среде облученных и необлученных образцов при комнатной и повышенных температурах;


  • Испытания (анализ) металлов и металлосодержащей продукции по действующей нормативной документации;
  • Испытания (анализ) металлов и металлосодержащей продукции по техническому заданию заявителя;
  • Испытания минерального сырья по содержанию ценных и сопутствующих компонентов;
  • Испытания вторичного сырья по содержанию ценных и сопутствующих компонентов;
  • Анализ техногенных отходов (отвалов, шлаков, шламов, электролитов, зол и т.п.) на содержание ценных и токсичных компонентов;
  • Идентификационный и полуколичественный анализ образца;
  • Анализ объектов окружающей среды (почвы, воды, воздуха) на содержание тяжелых металлов;
  • Определение локальной концентрации примесей и их пространственного распределения в неорганических материалах методом локального рентгеноспектрального анализа (локальность и латеральное разрешение до 1 мкм, предел обнаружения до 0.01%);
  • Определение химического состояния элементов в неорганических материалах методом Оже-спектроскопии;
  • Исследование особенностей структуры полупроводниковых кристаллов с помощью сканирующей электронной микроскопии;
  • Измерение толщин тонких слоев;
  • Измерения параметра кристаллической решетки с точностью до ± 5.10-4 Å;
  • Исследование структуры, состава, геометрических размеров в нанометрической области наноструктурированных или наномодифицированных материалов с использованием полеэмиссионного сверхвысокоразрешающего сканирующего микроскопа оснащенного спектрометрами с энергетической и волновой дисперсиями, а также приставкой для анализа дифракции обратнорассеянных электронов.

По мере развития ЦКП и оснащения его современным научным оборудованием перечень предоставляемых услуг коллективного пользования может быть расширен.